カールツァイス株式會社
| 出展者名 | カールツァイス株式會社 |
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| 英文社名 | Carl Zeiss Co., Ltd. |
| 小間番號 | A-322 |
| 住所 |
〒102-0083 東京都 千代田區(qū)麹町二丁目10番9號 |
| Address |
2-10-9 Koji-machi, Chiyoda-ku, Tokyo 102-0083 Japan |
| ホームページURL | http://www.zeiss.co.jp/imt |
| メールアドレス | |
| 電話番號 | 0570-02-1310 |
| Telephone | +81-570-02-1310 |
| PR文 | 金型?プレス業(yè)界のニーズに弊社の測定ソリューションがどのようにお応えできるのかをテーマにディメンショナルX線CT裝置、3Dスキャナ、非接觸面歪測定機、リバースエンジニアリング用ソフトウェア、測定データ管理システム等の各種製品をご紹介いたします。 |
| 代表的な出展製品 |
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| 出展製品[1] | ディメンショナルＸ線CT裝置 ZEISS METROTOM |
| 出展製品詳細(xì)[1] |
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| 出展製品[2] | 高速X線CT検査裝置 ZEISS VoluMax |
| 出展製品詳細(xì)[2] |
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| 出展製品[3] | 高速X線透過検査裝置 ZEISS Bosello |
| 出展製品詳細(xì)[3] |
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| 出展製品[4] | リバースエンジニアリング用ソフトウェア ZEISS REVERSE ENGINEERING |
| 出展製品詳細(xì)[4] |
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| 出展製品[5] | 測定データ管理システム ZEISS PiWeb |
| 出展製品詳細(xì)[5] |
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| 出展製品[6] | 新エントリークラス3Dスキャナ GOM Scan 1 |
| 出展製品詳細(xì)[6] |
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| 出展製品[7] | プレス/ボディの外観不良自動検出システム ZEISS ABIS II |
| 出展製品詳細(xì)[7] |
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| 出展カテゴリ |
K. 精密測定機器?光學(xué)測定機器各種測定器 三次元測定器 形狀?あらさ測定機器 自動精密測定機器 |
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