展示情報
出展者検索
出展者詳細(xì)
出展者名 | カールツァイス株式會社 |
---|---|
英文社名 | Carl Zeis Co., Ltd. |
小間番號 | 3-333 |
住所 |
〒564-0062 大阪府 吹田市垂水町3-35-22 |
Address |
3-35-22,Tarumi-cho,Suita-shi,Osaka,564-0062 |
ホームページURL | http://www.zeiss.co.jp/imt |
メールアドレス | info.metrology.jp@zeiss.com |
電話番號 | 06-6337-8031 |
FAX番號 | 06-6337-7804 |
Telephone | +81-6-6337-8031 |
Facsimile | +81-6-6337-7804 |
PR文 | 金型業(yè)界のニーズにカールツァイスの測定機(jī)がどのようにお応えできるのか、カールツァイスの測定機(jī)がどのようなメリットをもたらすのかについて、ソリューションベースの展示を行います。 |
代表的な出展製品 |
マルチセンサ測定機(jī) O-INSPECT 863, Dimensional X線CT METROTOM(モックアップ), 非接觸3Dデジタイザ COMET L3D2, リバースエンジニアリング用ソフトウェアZEISS Reverse Engineering |
出展製品[1] | マルチセンサ測定機(jī) ZEISS O-INSPECT |
出展製品詳細(xì)[1] | マルチセンサ測定機(jī)ZEISS O-INSPECTはさまざまな形狀を、非接觸の光學(xué)式センサと接觸式センサを使用することで、最適に測定することができます。ZEISS O-INSPECTの重要な特長として、18-30°Cの溫度環(huán)境においても、ISO規(guī)格に準(zhǔn)拠した精度保証を?qū)g現(xiàn)していること、そして、汎用測定ソフトウェアのZEISS CALYPSOにより、測定結(jié)果を簡単に得られるだけではなく、エラー原因の検出と認(rèn)識が可能な點(diǎn)が挙げられます。 搭載されているZEISS Discovery.V12はZEISSマイクロスコピー製(顕微鏡部門)のレンズです。標(biāo)準(zhǔn)的なレンズと比較すると、4倍の撮像範(fàn)囲と、周辺部の歪みが非常に少ない畫像を?qū)g現(xiàn)しています。その結(jié)果、測定時間の削減と高い精度が得られます。 ZEISS O-INSPECTには多様で、高速、高精度な測定が可能な接觸式センサZEISS VAST XXTが裝備されています。このスキャニングセンサは1つの測定経路で多くの測定點(diǎn)を取得することができ、ワークの形狀や位置情報をより正確に把握することができます。このクラスの測定機(jī)で唯一の機(jī)能です。一般的なマルチセンサ測定機(jī)では比較的高い測定力でシングル點(diǎn)測定しかできない箇所でも、ZEISS O-INSPECTなら、mN(ミリニュートン)レベルの低い測定力でスキャニング測定することが可能です。このため、薄板狀のワークでも高精度な三次元測定を?qū)g現(xiàn)します。 汎用測定ソフトウェアZEISS CALYPSOとの組み合わせにより、ZEISS O-INSPECTは視覚化のまったく新しい次元を開きます。実測値、設(shè)計(jì)値、誤差を同時に見ることができるので、測定結(jié)果の適切な分類および理解が容易です。 |
出展製品[2] | 非接觸3次元デジタイザ ZEISS COMET L3D2 |
出展製品詳細(xì)[2] | 非接觸3次元デジタイザCOMET L3D2は、導(dǎo)入しやすい低コストソリューションとして効率的な3Dデータ取得のために新たな次元を開きます。 COMET L3D2は革新的でメンテナンスフリー、しかもより壽命の長くて経済的なLED照明を使用しているため、ユーザーは消費(fèi)財(cái)のコストを最小限に抑えることができます。実証済みのZEISS Optotechnik『ワン?カメラ?テクニック』によるセンサーケースと全測定機(jī)構(gòu)は、極めてコンパクトに軽量考案されており容易に運(yùn)搬できます。 COMET L3D2による3Dデータの取得は抜群に高速です。センセーショナルに短い測定時間とユーザーフレンドリーなソフトウェアにより、効率的な測定が確約されます。 COMET L3D2は抜群のデータ品質(zhì)と非常に精密な測定結(jié)果を示すため、品質(zhì)管理におけるチャレンジングな応用にも理想的です。 応用領(lǐng)域: ? 品質(zhì)管理および検査 ? 治具および型の製造 ? 設(shè)計(jì) ? ラピッドマニュファクチャリング ? リバースエンジニアリング ? 美術(shù)工蕓史や考古學(xué)対象などのスキャニング |
出展製品[3] | Dimensional X線CT ZEISS METROTOM |
出展製品詳細(xì)[3] | METROTOMは主に射出成型品の測定?評価のためのDimensional X線CT三次元測定機(jī)です。 従來の接觸式測定機(jī)では測定できなかった測定?評価を非破壊で可能にします。 ?內(nèi)部形狀 - 內(nèi)徑測定、內(nèi)寸法、內(nèi)形狀 ?インサート形狀 - 金屬と樹脂との境界、位置、倒れ、曲がり ?樹脂內(nèi)気泡 - 樹脂內(nèi)気泡の位置、方向、大小の確認(rèn) ?幾何公差 - 內(nèi)部の平面度、円筒度などの幾何公差評価 ※今回は、METROTOMの構(gòu)造が良く分かるモックアップによる展示になります。 |
出展製品[4] | リバースエンジニアリング用ソフトウェア ZEISS Reverse Engineering |
出展製品詳細(xì)[4] | ZEISS Reverse Engineeringは、得られた點(diǎn)群から、CADシステムで処理することができる面を生成します。その結(jié)果、複雑な面でも小さいデータ量で記述することができます。標(biāo)準(zhǔn)幾何形狀は、近似形狀としてだけでなく、正確な幾何要素としても生成されます。CADモデルが精密であることに加えて、アルゴリズムができるかぎり曲率と面の連続性が一定になるように面をスムーズにします。これは、最適な加工パスのための前提條件です。 |
出展カテゴリ |
K. 精密測定機(jī)器?光學(xué)測定機(jī)器 三次元測定器 その他 |